X射線分辨率模體
X射線分辨率模體
低對比度細節(jié)模體用于快速定量檢測影像成像質(zhì)量,可以用于射線放射影像系統(tǒng)和CR系統(tǒng);這些測試對象旨在快速定量評估圖像質(zhì)量。檢測模體定制生產(chǎn)廠家:廊坊玉雙儀器設備有限公司,定制生產(chǎn)編號:20230107-05。CRDR性能檢測模體用途:用于檢測DSA系統(tǒng)的動態(tài)范圍,空間分辨力、低對比度線性、減影性能、血管細節(jié)成像性能、幾何畸變等性能指標。主要用于測試射線機的高分辨率。模體內(nèi)邊界及中心
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更新日期
2023-01-0702
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家03
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