高對(duì)比度分辨力測(cè)試卡

分辨率測(cè)試卡，致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器，其中包括無損檢測(cè)儀器，分辨率測(cè)試卡，用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。空間分辨率線對(duì)卡定制生產(chǎn)廠家：廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司，產(chǎn)品銷售編號(hào)：20230204-02。

分辨率

圖像中恰好能分開的細(xì)節(jié)之間的距離;通常用單位寬度范圍內(nèi)可識(shí)別的線對(duì)數(shù)表示,單位是每毫米線對(duì)數(shù)(LP/mm)。

調(diào)制傳遞函數(shù)

描繪輸出信息量與輸入信息量變化關(guān)系的響應(yīng)函數(shù),是成像系統(tǒng)對(duì)輸入信息的傳遞和轉(zhuǎn)換功能。主要反映的是影像信息的再現(xiàn)率。

測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中

盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm

芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm

圖案布局：T型 （3-10μm）

I 型 （15-50μm）

線/空間尺寸：16種規(guī)格圖案,

3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型）15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)

線對(duì)卡是對(duì)X射線的成像進(jìn)行分辨力進(jìn)行測(cè)試的裝置，該裝置通過其本身帶有的不同的線對(duì)對(duì)X射線的成像的圖像進(jìn)行檢測(cè)，把線對(duì)卡至于X射線影像設(shè)備之下進(jìn)行曝光成像，然后觀察圖像能夠顯示出多少個(gè)線對(duì)的數(shù)量作為衡量射線設(shè)備的分辨力能力時(shí)候滿足日常檢測(cè)的分辨率的需要。離射線源較近一側(cè)的表面上,按照一定的工藝條件進(jìn)行透照,經(jīng)暗室處理后在底片上能夠觀察到幾組黑白相間的柵條影像,則該組線對(duì)所對(duì)應(yīng)的線對(duì)數(shù)即為底片(或照相系統(tǒng))的分辨率。高對(duì)比度分辨力測(cè)試卡