CRDR分辨率測(cè)試卡
CRDR分辨率測(cè)試卡
CRDR射線分辨率測(cè)試卡、CT性能質(zhì)控模體、X射線科全景質(zhì)控模體、低分質(zhì)控模體、放射治療質(zhì)控模體、SPECT檢測(cè)模體和磁共振彌撒檢測(cè)模體等影像診斷質(zhì)控設(shè)備和射線機(jī)安檢機(jī)的質(zhì)控檢測(cè)體模和裝置等。
產(chǎn)品介紹:設(shè)備概述射線分辨率測(cè)試卡是一種專(zhuān)門(mén)用于評(píng)估X射線成像
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更新日期
2024-07-0502
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家03
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