X均勻性綜合測(cè)試卡
X均勻性綜合測(cè)試卡
測(cè)試卡定制銷售產(chǎn)品編號(hào):20221223.09,測(cè)試卡標(biāo)尺分度值不大于2mm,測(cè)試模體視野尺寸為(430×430)mm、(430×350)mm、(350×350)mm。(2)并具有邊界及中心影像均勻性測(cè)試點(diǎn)。更多產(chǎn)品的詳細(xì)信息請(qǐng)咨詢廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司。使用分辨率測(cè)試:卡壞僅僅只限制于卡的清晰度,還要配置好測(cè)試環(huán)境 ,在正確的測(cè)試環(huán)境下檢測(cè)出來(lái)的測(cè)試數(shù)據(jù)才是真實(shí)*的。那么如
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更新日期
2022-12-2302
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家03
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