-
閃爍體檢測(cè)線對(duì)卡
閃爍體檢測(cè)線對(duì)卡
品牌:德國(guó)IBA,產(chǎn)品的其他名稱X射線分辨率測(cè)試卡,空間分辨力測(cè)試卡,線對(duì)卡,X光攝影質(zhì)控檢測(cè)卡,射線透射影像線對(duì)卡,列陣線對(duì)卡,分別力測(cè)試卡,線對(duì)束分辨力檢測(cè)卡。我司為實(shí)體產(chǎn)家,非標(biāo)產(chǎn)品定制實(shí)驗(yàn)裝置如有需求定制或采購(gòu)請(qǐng)聯(lián)系:廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司,產(chǎn)品定制生產(chǎn)銷售編號(hào):20230216-05。
分辨率測(cè)試卡的構(gòu)成
在一定寬度內(nèi),均勻地排列著若干組線對(duì)組,相鄰兩組的距離為3 m
-
訂制X射線質(zhì)控檢測(cè)工具
X射線質(zhì)控檢測(cè)工具
質(zhì)控檢測(cè)卡生產(chǎn)定制廠家:廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司,質(zhì)控檢測(cè)卡定制生產(chǎn)銷售編號(hào):20230209-07.線對(duì):每毫米線對(duì)一般指分辨率的單位。指儀器在一毫米內(nèi)能分辨出多少對(duì)線。一般儀器能分辨的線對(duì)數(shù)越多,表示儀器的分辨率越好。
解析度卡(分辨率卡)是標(biāo)準(zhǔn)樣張,可以提供實(shí)際拍攝的垂直分辨率和水平分辨率等輔助測(cè)試。
辨率范圍:
0.6-5.0 l p/mm 0.6-10.0lp/mm
-
低對(duì)比度測(cè)試卡
低對(duì)比度測(cè)試卡
X射線是一種波長(zhǎng)極短,能量很大的電磁波,X射線的波長(zhǎng)比可見光的波長(zhǎng)更短(約在0.001~100納米,醫(yī)學(xué)上應(yīng)用的X射線波長(zhǎng)約在0.001~0.1納米之間),它的光子能量比可見光的光子能量大幾萬至幾十萬倍。生產(chǎn)銷售編號(hào):20230204-07.
構(gòu)成CT圖像的像數(shù)不可能像X線照片的銀粒那么細(xì)小而多,所以CT空間分辨率較普通的X線照片要小。是否可以簡(jiǎn)單的理解為空間分辨率就是多高的像素
-
高對(duì)比度分辨力測(cè)試卡
高對(duì)比度分辨力測(cè)試卡
分辨率測(cè)試卡,致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器,其中包括無損檢測(cè)儀器,分辨率測(cè)試卡,用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率,以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量??臻g分辨率線對(duì)卡定制生產(chǎn)廠家:廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司,產(chǎn)品銷售編號(hào):20230204-02。
分辨率
圖像中恰好能分開的細(xì)節(jié)之間的距離;通常用單位寬度范圍內(nèi)可識(shí)別的線對(duì)數(shù)表示,單位是每毫米線對(duì)數(shù)(LP/mm)。
調(diào)制傳遞函數(shù)
描繪
-
30線對(duì)射線測(cè)試卡
30線對(duì)射線測(cè)試卡
線對(duì) (Line pairs) 是膠片、鏡頭等電影 領(lǐng)域的名詞。每毫米線對(duì)一般指分辨率的單位,指儀器在一毫米內(nèi)能分辨出多少對(duì)線。在一定尺度內(nèi)的可分辨線對(duì)數(shù)常被用來衡量?jī)x器的空間分辨能力,能分辨的線對(duì)數(shù)越多,其能分辨每根線的寬度也越小,其分辨能力也越好。線對(duì)卡生產(chǎn)廠家:廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司,線對(duì)卡產(chǎn)品銷售編號(hào):20230202-05。
用鉛作為基準(zhǔn)物質(zhì)時(shí),以鉛的厚度來表示的
-
0.03鉛當(dāng)量線對(duì)卡
0.03鉛當(dāng)量線對(duì)卡
射線檢測(cè)系統(tǒng)分辨率和射線檢測(cè)圖像分辨率以及射線底片分辨率是考核成像系統(tǒng)質(zhì)量和圖像成像質(zhì)量的重要指標(biāo),也是射線檢測(cè)設(shè)備和檢測(cè)圖像質(zhì)量驗(yàn)收的重要依據(jù),需要用質(zhì)量檢測(cè)工具--線對(duì)卡,線對(duì)卡生產(chǎn)廠家:廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司,線對(duì)卡產(chǎn)品銷售編號(hào):20230202-06。分辨率線對(duì)卡用途是什么?
1.解析度卡(分辨率卡)是標(biāo)準(zhǔn)樣張,可以提供實(shí)際拍攝的垂直分辨率和水平分辨率等輔助測(cè)試。